Material Surface Analytics Unit
Die Materials Surface Analytics Unit unterstützt Sie bei der umfassenden chemischen, strukturellen und physikalischen Charakterisierung von Materialien und Oberflächen. Mit Methoden wie XRD, SAXS und WAXS analysieren wir kristalline und nanostrukturierte Materialien, während XPS detaillierte Informationen über die chemische Zusammensetzung und den chemischen Zustand von Oberflächen liefert. Kontaktwinkelmessungen ermöglichen die Untersuchung von Benetzbarkeit und Oberflächeneigenschaften. Ergänzend stehen Raman-Spektroskopie, AFM und Ellipsometrie für die Analyse molekularer Strukturen, Oberflächentopographien sowie dünner Schichten zur Verfügung. Darüber hinaus beraten wir Sie bei der Auswahl geeigneter Analysemethoden, der Entwicklung von Messstrategien sowie bei der Auswertung und Interpretation der gewonnenen Daten.
We offer:
- X-ray Diffraction (XRD)
- Small-Angle X-ray Scattering (SAXS)
- Wide-Angle X-ray Scattering (WAXS)
- X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
- Contact Angle Measurements
- Raman Spectroscopy
- Atomic Force Microscopy (AFM)
- Ellipsometry
- Structural Characterization
- Surface Chemical Analysis
- Surface Topography Analysis
- Thin-Film Characterization
- Wettability and Surface Energy Analysis
- Method Development
- Data Evaluation and Interpretation
- Consultation Services